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楊正紅總經理連任顆粒表征標準化技術分委會委員


2023811日至13日,全國顆(ke)粒表征(zheng)與(yu)分(fen)檢及篩網標委會顆(ke)粒分(fen)技術委員會(SAC/TC168/SC1)換屆大會(hui)暨年度工作(zuo)會(hui)議(yi)在全國工業的(de)一(yi)面旗幟(zhi)——大慶油田有(you)限責任公司勘探(tan)開發研(yan)究院舉行。



在此次(ci)會(hui)議上,楊正紅總經理(li)當選為第三屆顆粒分技術委(wei)員(yuan)會(hui)(SAC/TC168/SC1)委員。

在本(ben)次(ci)會議(yi)上,與會委員審(shen)查了(le)國標《顆(ke)粒 粒度(du)分析 彩色(se)圖像法》英文版及《顆(ke)粒 質量一致性(xing)評價指南》等指導性(xing)技術文件。在國標新項目建議(yi)審(shen)查中,蔡(cai)小舒教授提出的《納米(mi)顆(ke)粒非(fei)球體度(du)測(ce)量 偏振光散射法》引起了(le)熱烈(lie)反(fan)響,大家一致認為(wei)這(zhe)是納米(mi)及亞微米(mi)顆(ke)粒形狀測(ce)量的一個突破。





會議期間,還舉行了ISO/TC24/SC4 (篩分法以外的粒度分析方法)202310月秋季年會(hui)的預(yu)備(bei)工作(zuo)會(hui)議。楊(yang)正紅總經理作(zuo)為ISO專家委員,將參加(jia)第(di)一工作組(分析數據的(de)表示,WG1)、第三工作(zuo)組(孔徑(jing)分布和孔隙率,WG3)、第八工作組(圖像分析法,WG8)以及第十七工(gong)作組(zeta電位測定(ding)方法,WG17)的工作會(hui)議。

大慶(qing)的秀麗風(feng)光給與會者留(liu)下了美好印象。